IC/MEMS测试设备:探针台、光学检测等
2012-12-03 15:15:49 来源:微迷 评论:0 点击:
鼎曜科技有限公司经销知名品牌的进口IC/MEMS检测设备,包括自动光学检测AOI(Automated Optical Inspection)、MEMS Infrared-ray探伤/对准仪、4吋至12吋精密探针台、微光显微镜仪器等。
鼎曜科技有限公司经销知名品牌的进口IC/MEMS检测设备,包括自动光学检测AOI(Automated Optical Inspection)、MEMS Infrared-ray探伤/对准仪、4吋至12吋精密探针台、微光显微镜仪器等。
尤其是”MEMS Infrared ray探伤/对准仪”,本设备专注在3D互连键合套准和缺陷计量的红外显微技术,可以提供生产中实时且非破坏检测,立即做互连键合套准检测及尺寸量测或实时发现微小区域的失效点,减少生产损失。
另一产品为自动光学检测,使用光学影像及影像比对检测技术进行产品的检测。针对轻薄短小、密度高之电子产品的检测需求而开发,在不需测试治具、不需电子量测且不破坏产品的情况下,可有效检出组件的各种不良制程。
欢迎您给予样本免费做展示。
我司在代理半导体生产及检测设备领域,着重客制化服务且价格极具优势,如能为您提供产品或技术服务,欢迎您来电垂询。
鼎曜科技(DingTek)敬上
联系人: 杨穎成
联系电话: 86-159-2121-4255 (上海)
电子邮箱:leslie@ding-tek.com
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