机器视觉最佳解决方案：光焱科技图像传感器量子效率测试仪
2015-03-16 20:28:07   来源：微迷   评论：0   点击：

随着机器视觉的迅速发展，图像传感器的制造要求如灵敏度、结构设计等越来越高。图像传感器芯片(CCD或CMOS)的量子效率定义为在某一特定波长的光照下,在一定曝光时间内,单个像素光敏面的吸收与累积的平均电荷数与辐射的平均光子数的比值，换句话说，即芯片在曝光时间内将到达像素光敏面的光子转换为电子的百分比,与器件的几何结构、材料等有关,是衡量芯片性能的最主要因素之一。

传统的测量装置，利用可调单色光源穿过积分球，并利用特殊演算法取得量子效率，然而，积分球虽可提供均匀的单色光源，但经过漫反射后，光强大幅减弱，致使测试条件受到很大的限制，如无法在较高的动态范围下做测试；由于积分球构造原理的关系，样品与积分球出光口距离非常受限，亦导致使用上的各种不便与质疑。

光焱科技最新产品图像传感器量子效率测试仪 MV-IS使用独家均光系统，大大的增强量测的便利性与准确性，不但可以轻松的调整光强度，在专利的讯号撷取技术上，无论在弱光或强光，都可以顺利测得芯片或相机准确的量子效率、动探范围以及CRA等关键参数。

图1 图像传感器量子效率测试仪 MV-IS

特色
◆ 独家的均匀光系统，超高单色光光强
◆ 实现全阵列像素测量
◆ 发散角度小于5度的准直单色光
◆ 丰富的相机接口
◆ 灵活的硬件扩展和升级能力
◆ 激光定位

应用
◆ CCD相机
◆ CMOS相机
◆ 紫外光传感器
◆ 红外光传感器
◆ 摄像头
◆ 其他类型光电器件

图2 MVIS系统可产生高均匀度与高光强度的单色光光斑，具备绝佳的讯噪比，可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性

图3 市售工业级相机实测于470nm波长各项参数之量测结果

图4 光焱科技专利均光系统与传统均光系统之照度比较

图5 光焱科技专利均光系统与传统均光系统之光通量比较

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