ADI推出三轴高g值模拟MEMS加速度计
2012-05-28 15:24:33 来源:微迷 评论:0 点击:
亚德诺(Analog Devices, Inc.)近期推出一款三轴高g值模拟MEMS加速度计,主要应用于高冲击检测,如工业机械、冲击黑盒等。
ADXL377是一款模拟、三轴、高g值MEMS加速度计,提供经过信号调理的电压输出,满量程加速度测量范围为±200g(最小值)。该器件设计用于测量高冲击事件导致的动态加速度,且不会出现传感器饱和。ADXL377的模拟输出提供对冲击事件的全面可见性,因此不会丢失任何潜在的关键数据。
用户使用XOUT、YOUT和ZOUT引脚上的电容CX、CY和CZ选择该加速计的带宽。可以根据应用选择合适的带宽,X轴和Y轴的带宽范围为0.5 Hz至1600 Hz,Z轴的带宽范围为0.5 Hz至1200 Hz。因此,ADXL377可用于在具有高频器件的工业应用中检测冲击和撞击事件。
ADXL377封装尺寸小:3 mm × 3 mm × 1.45 mm,16引脚引脚架构芯片级封装(LFCSP_LQ)。
应用领域:
- 冲击力检测
- 可能的头部创伤
- 工业机械
- 工业工具
- 防护保固
- 冲击黑盒
经典文章回顾
- 惯性传感器厂商mCube更名为Movella,挖掘运动数据价值
- 长沙高新区建成79GHz毫米波雷达生产线,雷达应用遍地开花
- OCT+近红外光谱,SpectraWAVE血管内成像平台获得FDA上市前批准
- 敏芯股份李刚:专注实现MEMS芯片中国造
- 国产MEMS产业正崛起,士兰微凭何立足MEMS IDM之林?
- 硅光子传感技术领先厂商Rockley Photonics申请破产保护
- 安防监控CMOS图像传感器龙头思特威携手合肥晶合布局12寸CIS产线
- Aeva全球首款4D激光雷达芯片模组,交由光电子制造领导者Fabrinet量产
- 新加坡A*STAR助力MetaOptics引领全球超构透镜的创新和制造
- 全球光电行业“奥斯卡”,2022年“棱镜奖”入围名单出炉